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[单选题]半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于
A
可靠性测定试验
B
可靠性鉴定试验
C
可靠性验收实验
D
环境应力筛选试验
正确答案：D
题目解析
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于
环境应力筛选试验
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